近場(chǎng)探頭測(cè)試
輻射發(fā)射的測(cè)試一般是使用校準(zhǔn)過(guò)的天線進(jìn)行遠(yuǎn)場(chǎng)的測(cè)試,可以準(zhǔn)確的高速我們被測(cè)件是否符合相應(yīng)的EMI標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場(chǎng)的結(jié)果對(duì)于問(wèn)題的查找不是很方便,我們通常無(wú)法從遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試的結(jié)果來(lái)判斷被測(cè)件超標(biāo)的源頭,是某個(gè)芯片導(dǎo)致的,還是內(nèi)部某條電源走線導(dǎo)致的。...